میکروسکوپ توموگرافی اشعه ایکس سنکروترون

یک تکنیک جدید به نام میکروسکوپ توموگرافی اشعه ایکس سنکروترون (SRXTM) امکان اسکن دقیق سه بعدی فسیل ها را فراهم می کند. 

ساخت منابع synchrotron نسل سوم همراه با بهبود چشمگیر فن آوری آشکارساز ، ذخیره سازی داده ها و قابلیت های پردازش از دهه 1990 منجر به تقویت توموگرافی همزمان سنکروترون بالا در تحقیقات مواد با طیف گسترده ای از برنامه های مختلف ، به عنوان مثال شده است. تجسم و تجزیه و تحلیل کمی از مراحل مختلف جذب ، ریزگردها ، ترک ها ، رسوبات یا دانه ها در یک نمونه.   تشعشع سینکروترون با تسریع ذرات آزاد در خلاء بالا ایجاد می شود. با توجه به قوانین الکترودینامیک این شتاب منجر به انتشار اشعه الکترومغناطیسی می شود (جکسون ، 1975). شتاب ذرات خطی یکی از امکانات است ، اما جدا از میدان های برقی بسیار بالا ، نیازی به نگهداری ذرات باردار بر روی یک مسیر بسته به منظور بدست آوردن منبع تابش مداوم ، کاربردی تر است. از میدان های مغناطیسی برای مجبور کردن ذرات بر مدار مورد نظر و جلوگیری از پرواز آنها در یک خط مستقیم استفاده می شود. شتاب شعاعی مرتبط با تغییر جهت و سپس تابش ایجاد می کند.