مبانی تداخل سنجی

1. مقدمه

2. تداخل: یک آغازگر

3. تداخل سنج دو پرتو

4. منبع-اندازه و جلوه های طیفی

5. تداخل چند پرتو

6. لیزر به عنوان منبع نور

7. آشکارسازهای نوری

8. اندازه گیری طول

9. تست نوری

10. تکنیک های دیجیتال

11. تداخل سنجی ماکرو و میکرو

12. میکروسکوپ تداخل نور سفید

13. تداخل سنجی هولوگرافیک و لکه ای

14. سنسورهای تداخل سنجی

15. طیف سنجی تداخلی

16. طیف سنجی تبدیل فوریه

17. تداخل با تک فوتون ها

18. ساخت تداخل سنج

ضمیمه

الف. امواج نوری تک رنگ

ب. تغییر فاز در بازتاب ها

ج. پراش

د. نور پلاریزه

E. فاز 

F. تداخل سنج Twyman-Green: تنظیم اولیه

G. تداخل سنج ماخ زندر: تنظیم اولیه

کاربردهای فوتونیک

مواد برای ارتباط

سمپوزیوم

ح) مواد پیشرفته توسط خود مونتاژ: ساخت و کاربردها

I) محاسبات دامنه خاص از طریق طراحی مشترک سیستم-فناوری

ی) مواد فوتونیک

سمپوزیوم بر پیشرفت های اخیر در مواد برای کاربردهای فوتونیک تمرکز خواهد کرد، از جمله:

مواد تغییر فاز برای فوتونیک فعال (کالکوژنیدها، اکسیدهای فلزی و غیره)

مواد دو بعدی برای دستگاه های ساطع کننده نور، آشکارسازهای نوری و غیره

مواد پلاسمونیک و پلاریتونیک (عایق های توپولوژیکی، پروسکایت های هیبریدی و غیره)

سکوهای دی الکتریک برای نانوفوتونیک (سیلیکون، III-V، اکسیدهای فلزی و غیره)

مواد فوتونیک آلی

مواد با ابعاد کم (نقاط کوانتومی، نانوسیم ها و غیره)

مواد نانوساختار برای فرامواد فوتونیک و فراسطح

مفاهیم جدید در فوتونیک (فوتونیک توپولوژیکی، تقارن PT، فوتونیک غیر متقابل، و غیره)