کریستالوگرافی اشعه ایکس (XRC)

لیزر الکترون آزاد

لیزرهای الکترون آزاد برای استفاده در کریستالوگرافی اشعه ایکس توسعه یافته اند. اینها درخشان ترین منابع اشعه ایکس در حال حاضر هستند. با تابش اشعه ایکس در فموس دوم ثانیه. شدت منبع به حدی است که الگوهای پراش تفکیک اتمی را می توان برای بلورها و در غیر این صورت برای جمع آوری بسیار کوچک حل کرد. با این حال ، منبع نور شدید نیز نمونه را از بین می برد ، که نیاز به شلیک چند کریستال دارد. از آنجا که هر کریستال به طور تصادفی در پرتو قرار دارد ، صدها هزار تصویر پراش جداگانه باید جمع آوری شود تا یک مجموعه داده کامل به دست آید. این روش ، کریستالوگرافی فمتوثانیه ، برای حل ساختار تعدادی از ساختارهای کریستال پروتئینی مورد استفاده قرار می گیرد ، که گاهی اوقات تفاوت هایی را با ساختارهای معادل جمع آوری شده از منابع سنکروترون نشان می دهد. 

کریستالوگرافی اشعه ایکس (XRC)

کریستالوگرافی اشعه ایکس (XRC) یک علم تجربی است که ساختار اتمی و مولکولی یک بلور را تعیین می کند ، که در آن ساختار کریستالی باعث می شود که پرتو اشعه ایکس تصادفی در جهات خاصی پراکنده شود. با اندازه گیری زاویه ها و شدت این پرتوهای پراش ، یک کریستالوگراف می تواند تصویری سه بعدی از چگالی الکترونهای درون کریستال ایجاد کند. با استفاده از این چگالی الکترون می توان موقعیت میانگین اتم ها در بلور و پیوندهای شیمیایی آنها ، اختلال بلور شناسی و اطلاعات مختلف دیگر را تعیین کرد.